Технологічний прогін – це кінцевий етап виготовлення оптоелектронних та електронних систем, який являє собою відносно недовгу їх роботу в умовах, близьких до експлуатаційних, з метою знаходження і видалення прихованих дефектів і причин, що їх викликали і розповсюдження на 100% виробів, що виготовляються. ТП проводиться у тих випадках, коли у виробів встановлена наявність періоду приробки. Періодом прироби є початковий період роботи виробу на протязі якого виявляються відмови, які виникають внаслідок прихованих дефектів.
Визначення наявності дефекту періоду приробки проводиться на основі статистичних даних по відмовах, які були отримані при дослідженні, експлуатації дослідних зразків виробу або експлуатації серійних виробів.
Проведення ТП дозволяє:
– виявити і усунути приховані дефекти, які були допущені в процесі проектування і виробництва;
– стабілізувати технічні характеристики виробу;
– виявити явні дефекти, які були випадково не виявлені при технічному контролі;
– істотно скорочувати попадання до споживача виробів з прихованими дефектами;
– приймати міри по виявленню причин, які викликають виникнення прихованих дефектів;
– отримувати інформацію, яка може бути використана для управління якістю продукції і технологічних процесів;
– проводити взаємну приробку окремих елементів виробу.
Порядок виконання розрахунків
1. Впровадження статистичного матеріалу.
1.1. Статистичні дані про моменти відмов всіх виробів розташовують на одній лінії в порядку їх виникнення. Всім відмовам виробів присвоюють номера в порядку їх виникнення ( і=1,2,3,… ) з вказанням наробки (t) і заносять послідовно в графу 2 табл.4.4. якщо в момент виникло m відмов то в і-му рядку графи 2 в дужках біля наробки вказується величина m.
1.2. Для кожної і-ї відмови в графі 3 табл.4.4 необхідно вказати загальну кількість виробів N, які проходять ТП в інтервалі
2. Попередня обробка результаті.
Обчислимо середню наробку на відмову всіх виробів між двома сусідніми відмовами:
Після цього обчислюємо величини за формулою:
3.1.Проводимо послідовне порівняння (починаючи з ) попереднього значення
з наступним значенням
, якщо
то переходимо до порівняння
з наступним значенням
, а значення
заносимо в графу 6 табл.4.5 в рядок з індексом і.
Якщо , то величини
(i=1,2) об’єднуємо в
по формулі:
де N – кількість об’єднаних величин . Значення
заносяться в графу табл.4.5 в рядки з індексами від i до i+n . Після цього проводиться подальше порівняння результатів.
3.2. Якщо після проведення першого етапу (п.3.1.) значення не утворили послідовність, яка не зростає, то процедура повторюється, а результати заносяться в графу 7 табл.4.5. Ця процедура повторюється до тих пір, поки не вийде не зростаюча послідовність значень.
Значення i
виписуються по порядку індексів і наносяться на графік (рис.4.7).
Отримана експериментальна крива являє собою графік залежності параметру потоку відмов від часу.
4. Апроксимація отриманої експериментальної кривої .
Отриману експериментальну криву апроксимують функціональною залежністю, яка має вигляд:
4.1. Обчислення коефіцієнтів W1 і b проводиться з використанням методу найменших квадратів по формулах:
де к – кількість стрибків експериментальної функції.
– відстань від початку координати до середини інтервалу (
)
Значення беруться з останньої графи табл.4.4.
4.2. Для оперативності і вірності обчислень за формулами (4.85) і (4.86) складається табл.4.5, де графа 1 – порядковий номер ступені, – абсциса середньої і-ї ступені, визначають за формулою (7),
– ордината і-ї ступені.
4.3. По формулі (4.84) розраховуємо апроксимуюче значення параметра потоку відмов W(ti) для всіх значень і будуємо графік.
4.4. Тривалість ТП необхідного для виявлення прихованих дефектів визначаємо за формулою:
де – параметр потоку відмов, який відповідає усталеному процесу
, тобто
.
Математична модель процесу ТП для рівняння (9) описується: